Atom Probe Tomography: Analysis at the Atomic Level - Michael K. Miller - 書籍 - Springer-Verlag New York Inc. - 9781461369219 - 2012年10月28日
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Atom Probe Tomography: Analysis at the Atomic Level Softcover reprint of the original 1st ed. 2000 edition

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The microanalytical technique of atom probe tomography (APT) permits the spatial coordinates and elemental identities of the individual atoms within a small volume to be determined with near atomic resolution.


254 pages, biography

メディア 書籍     Paperback Book   (ソフトカバーで背表紙を接着した本)
リリース済み 2012年10月28日
ISBN13 9781461369219
出版社 Springer-Verlag New York Inc.
ページ数 239
寸法 170 × 244 × 14 mm   ·   426 g
言語 英語  

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