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Atom Probe Tomography: Analysis at the Atomic Level Michael K. Miller 2000 edition
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Atom Probe Tomography: Analysis at the Atomic Level
Michael K. Miller
The microanalytical technique of atom probe tomography (APT) permits the spatial coordinates and elemental identities of the individual atoms within a small volume to be determined with near atomic resolution.
239 pages, biography
| メディア | 書籍 Hardcover Book (ハードカバー付きの本) |
| リリース済み | 2000年7月31日 |
| ISBN13 | 9780306464157 |
| 出版社 | Springer Science+Business Media |
| ページ数 | 239 |
| 寸法 | 170 × 244 × 20 mm · 544 g |
| 言語 | 英語 |
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