Atom Probe Tomography: Analysis at the Atomic Level - Michael K. Miller - 書籍 - Springer Science+Business Media - 9780306464157 - 2000年7月31日
カバー画像とタイトルが一致しない場合、正しいのはタイトルです

Atom Probe Tomography: Analysis at the Atomic Level 2000 edition

価格
¥ 28.997
税抜

遠隔倉庫からの取り寄せ

発送予定日 年8月20日 - 年9月7日
Michael K. Miller の新しいリリースのお知らせを受け取る
iMusicのウィッシュリストに追加

まだ評価がありません

他の形態でも入手可能:

The microanalytical technique of atom probe tomography (APT) permits the spatial coordinates and elemental identities of the individual atoms within a small volume to be determined with near atomic resolution.


239 pages, biography

メディア 書籍     Hardcover Book   (ハードカバー付きの本)
リリース済み 2000年7月31日
ISBN13 9780306464157
出版社 Springer Science+Business Media
ページ数 239
寸法 170 × 244 × 20 mm   ·   544 g
言語 英語  

Michael K. Millerの他の作品を見る

すべて表示

同じ出版社からのその他の記事