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Atom-Probe Tomography: The Local Electrode Atom Probe Michael K. Miller Softcover reprint of the original 1st ed. 2014 edition
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Atom-Probe Tomography: The Local Electrode Atom Probe
Michael K. Miller
Nanocharacterization by Atom Probe Tomography is a practical guide for researchers interested atomic level characterization of materials with atom probe tomography. Readers will find descriptions of the atom probe instrument and atom probe tomography technique, field ionization, field evaporation and field ion microscopy.
441 pages, 120 black & white illustrations, 62 colour illustrations, 30 black & white tables, 33 col
| メディア | 書籍 Paperback Book (ソフトカバーで背表紙を接着した本) |
| リリース済み | 2016年9月17日 |
| ISBN13 | 9781489977908 |
| 出版社 | Springer-Verlag New York Inc. |
| ページ数 | 423 |
| 寸法 | 150 × 220 × 10 mm · 749 g |
| 言語 | 英語 |
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