Analog IC Reliability in Nanometer CMOS - Analog Circuits and Signal Processing - Elie Maricau - 書籍 - Springer-Verlag New York Inc. - 9781461461623 - 2013年1月9日
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Elie Maricau
Analog IC Reliability in Nanometer CMOS - Analog Circuits and Signal Processing 2013 edition

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This book focuses on modeling, simulation and analysis of analog circuit aging. Then, transistor aging compact models for circuit simulation are discussed and several methods for efficient circuit reliability simulation are explained and compared.

240 pages, 68 black & white illustrations, 27 colour illustrations, 16 black & white tables

メディア 書籍     Hardcover Book   (ハードカバー付きの本)
リリース済み 2013年1月9日
ISBN13 9781461461623
出版社 Springer-Verlag New York Inc.
ページ数 198
寸法 160 × 243 × 17 mm   ·   453 g
言語 英語  

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