Analog IC Reliability in Nanometer CMOS - Analog Circuits and Signal Processing - Elie Maricau - 書籍 - Springer-Verlag New York Inc. - 9781489986306 - 2015年6月19日
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Elie Maricau
Analog IC Reliability in Nanometer CMOS - Analog Circuits and Signal Processing 2013 edition

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This book focuses on modeling, simulation and analysis of analog circuit aging. Then, transistor aging compact models for circuit simulation are discussed and several methods for efficient circuit reliability simulation are explained and compared.

198 pages, 16 black & white tables, biography

メディア 書籍     Paperback Book   (ソフトカバーで背表紙を接着した本)
リリース済み 2015年6月19日
ISBN13 9781489986306
出版社 Springer-Verlag New York Inc.
ページ数 198
寸法 155 × 235 × 12 mm   ·   308 g
言語 英語  

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