Weronika Walkosz
Atomic Scale Characterization and First-Principles Studies of Si3N4 Interfaces - Springer Theses Weronika Walkosz 2011 edition

Name: Atomic Scale Characterization and First-Principles Studies of Si3N4 Interfaces - Springer Theses
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Author: Weronika Walkosz

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Atomic Scale Characterization and First-Principles Studies of Si3N4 Interfaces - Springer Theses

Weronika Walkosz

2011 edition

This book offers results that influence many high temperature and pressure applications. It provides findings that will offer increased control over the performance of ceramic and semiconductor materials for a wide-range of applications.

176 pages, 2 black & white tables, biography

メディア	書籍 Paperback Book (ソフトカバーで背表紙を接着した本)
リリース済み	2013年5月28日
ISBN13	9781461428572
出版社	Springer-Verlag New York Inc.
ページ数	110
寸法	155 × 235 × 6 mm · 185 g
言語	英語