Weronika Walkosz
Atomic Scale Characterization and First-Principles Studies of Si3N4 Interfaces - Springer Theses Weronika Walkosz 2011 edition

Name: Atomic Scale Characterization and First-Principles Studies of Si3N4 Interfaces - Springer Theses
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Author: Weronika Walkosz

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Atomic Scale Characterization and First-Principles Studies of Si3N4 Interfaces - Springer Theses

Weronika Walkosz

2011 edition

This book offers results that influence many high temperature and pressure applications. It provides findings that will offer increased control over the performance of ceramic and semiconductor materials for a wide-range of applications.

176 pages, 2 black & white tables, biography

メディア	書籍 Hardcover Book (ハードカバー付きの本)
リリース済み	2011年4月19日
ISBN13	9781441978165
出版社	Springer-Verlag New York Inc.
ページ数	110
寸法	162 × 241 × 12 mm · 317 g
言語	英語