Nanometer Variation-Tolerant SRAM: Circuits and Statistical Design for Yield - Mohamed Abu Rahma - 書籍 - Springer-Verlag New York Inc. - 9781461417484 - 2012年9月27日
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Mohamed Abu Rahma
Nanometer Variation-Tolerant SRAM: Circuits and Statistical Design for Yield 2013 edition

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This essential reference combines state-of-the-art circuit techniques and statistical methodologies to optimize SRAM performance and yield in nanometer technologies. It shows designers how to apply practical techniques that optimize memory yield.

210 pages, 147 black & white illustrations, 6 colour illustrations, 5 black & white tables, biograph

メディア 書籍     Hardcover Book   (ハードカバー付きの本)
リリース済み 2012年9月27日
ISBN13 9781461417484
出版社 Springer-Verlag New York Inc.
ページ数 172
寸法 155 × 235 × 15 mm   ·   385 g
言語 英語  

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