Nanometer Variation-Tolerant SRAM: Circuits and Statistical Design for Yield - Mohamed Abu Rahma - 書籍 - Springer-Verlag New York Inc. - 9781493902200 - 2014年10月15日
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Mohamed Abu Rahma
Nanometer Variation-Tolerant SRAM: Circuits and Statistical Design for Yield 2013 edition

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This essential reference combines state-of-the-art circuit techniques and statistical methodologies to optimize SRAM performance and yield in nanometer technologies. It shows designers how to apply practical techniques that optimize memory yield.

172 pages, 5 black & white tables, biography

メディア 書籍     Paperback Book   (ソフトカバーで背表紙を接着した本)
リリース済み 2014年10月15日
ISBN13 9781493902200
出版社 Springer-Verlag New York Inc.
ページ数 172
寸法 155 × 235 × 10 mm   ·   272 g
言語 英語  

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