Erik Larsson
Introduction to Advanced System-on-Chip Test Design and Optimization - Frontiers in Electronic Testing Erik Larsson Softcover reprint of hardcover 1st ed. 2005 edition

Name: Introduction to Advanced System-on-Chip Test Design and Optimization - Frontiers in Electronic Testing
Price: 30307 JPY
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Author: Erik Larsson

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2005 edition

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Introduction to Advanced System-on-Chip Test Design and Optimization - Frontiers in Electronic Testing

Erik Larsson

Softcover reprint of hardcover 1st ed. 2005 edition

SOC test design and its optimization is the topic of Introduction to Advanced System-on-Chip Test Design and Optimization. The second part of the book discusses SOC related problems such as system modeling, test conflicts, power consumption, test access mechanism design, test scheduling and defect-oriented scheduling.

388 pages, biography

メディア	書籍 Paperback Book (ソフトカバーで背表紙を接着した本)
リリース済み	2011年2月2日
発売日	2010
ISBN13	9781441952691
出版社	Springer-Verlag New York Inc.
ページ数	388
寸法	150 × 220 × 10 mm · 571 g
言語	英語