Introduction to Advanced System-on-Chip Test Design and Optimization - Frontiers in Electronic Testing - Erik Larsson - 書籍 - Springer-Verlag New York Inc. - 9781402032073 - 2005年11月7日
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Erik Larsson
Introduction to Advanced System-on-Chip Test Design and Optimization - Frontiers in Electronic Testing 2005 edition

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SOC test design and its optimization is the topic of Introduction to Advanced System-on-Chip Test Design and Optimization. The second part of the book discusses SOC related problems such as system modeling, test conflicts, power consumption, test access mechanism design, test scheduling and defect-oriented scheduling.

388 pages, biography

メディア 書籍     Hardcover Book   (ハードカバー付きの本)
リリース済み 2005年11月7日
ISBN13 9781402032073
出版社 Springer-Verlag New York Inc.
ページ数 388
寸法 156 × 232 × 23 mm   ·   1,09 kg
言語 英語  

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