CTL for Test Information of Digital ICs - Rohit Kapur - 書籍 - Springer-Verlag New York Inc. - 9781402072932 - 2002年10月31日
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CTL for Test Information of Digital ICs 2002 edition

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From the reviews: "[...] a welcome addition to the literature. [...] This book promises to make a valuable contribution to the education of graduate students in electrical and computer engineering, and a very useful addition to the library of the maturer investigator in SoC designs or related fields." Microelectronics Reliability


173 pages, biography

メディア 書籍     Hardcover Book   (ハードカバー付きの本)
リリース済み 2002年10月31日
ISBN13 9781402072932
出版社 Springer-Verlag New York Inc.
ページ数 173
寸法 155 × 235 × 12 mm   ·   439 g
言語 英語  

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