CTL for Test Information of Digital ICs - Rohit Kapur - 書籍 - Springer-Verlag New York Inc. - 9781475778007 - 2013年4月26日
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CTL for Test Information of Digital ICs Softcover reprint of the original 1st ed. 2003 edition

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From the reviews: "[...] a welcome addition to the literature. [...] This book promises to make a valuable contribution to the education of graduate students in electrical and computer engineering, and a very useful addition to the library of the maturer investigator in SoC designs or related fields." Microelectronics Reliability


173 pages, biography

メディア 書籍     Paperback Book   (ソフトカバーで背表紙を接着した本)
リリース済み 2013年4月26日
ISBN13 9781475778007
出版社 Springer-Verlag New York Inc.
ページ数 173
寸法 155 × 235 × 10 mm   ·   272 g
言語 英語  

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