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CTL for Test Information of Digital ICs Rohit Kapur Softcover reprint of the original 1st ed. 2003 edition
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CTL for Test Information of Digital ICs
Rohit Kapur
From the reviews: "[...] a welcome addition to the literature. [...] This book promises to make a valuable contribution to the education of graduate students in electrical and computer engineering, and a very useful addition to the library of the maturer investigator in SoC designs or related fields." Microelectronics Reliability
173 pages, biography
| メディア | 書籍 Paperback Book (ソフトカバーで背表紙を接着した本) |
| リリース済み | 2013年4月26日 |
| ISBN13 | 9781475778007 |
| 出版社 | Springer-Verlag New York Inc. |
| ページ数 | 173 |
| 寸法 | 155 × 235 × 10 mm · 272 g |
| 言語 | 英語 |