A Designer's Guide to Built-In Self-Test - Frontiers in Electronic Testing - Charles E. Stroud - 書籍 - Springer-Verlag New York Inc. - 9781402070501 - 2002年5月31日
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Charles E. Stroud
A Designer's Guide to Built-In Self-Test - Frontiers in Electronic Testing 2002 edition

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A recent technological advance is the art of designing circuits to test themselves, referred to as a Built-In Self-Test. This book is written from a designer's perspective and describes the major BIST approaches that have been proposed and implemented, along with their advantages and limitations.

320 pages, biography

メディア 書籍     Hardcover Book   (ハードカバー付きの本)
リリース済み 2002年5月31日
ISBN13 9781402070501
出版社 Springer-Verlag New York Inc.
ページ数 320
寸法 155 × 235 × 20 mm   ·   689 g
言語 英語  

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