A Designer's Guide to Built-In Self-Test - Frontiers in Electronic Testing - Charles E. Stroud - 書籍 - Springer-Verlag New York Inc. - 9781475776263 - 2013年3月18日
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A Designer's Guide to Built-In Self-Test - Frontiers in Electronic Testing Softcover reprint of the original 1st ed. 2002 edition

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A recent technological advance is the art of designing circuits to test themselves, referred to as a Built-In Self-Test. This book is written from a designer's perspective and describes the major BIST approaches that have been proposed and implemented, along with their advantages and limitations.


340 pages, biography

メディア 書籍     Paperback Book   (ソフトカバーで背表紙を接着した本)
リリース済み 2013年3月18日
ISBN13 9781475776263
出版社 Springer-Verlag New York Inc.
ページ数 320
寸法 155 × 235 × 18 mm   ·   480 g
言語 英語  

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