この商品を友人に教える:
A Designer's Guide to Built-In Self-Test - Frontiers in Electronic Testing Charles E. Stroud Softcover reprint of the original 1st ed. 2002 edition
価格
¥ 37.640
税抜
遠隔倉庫からの取り寄せ
発送予定日 年8月28日 - 年9月15日
Charles E. Stroud の新しいリリースのお知らせを受け取る
iMusicのウィッシュリストに追加
他の形態でも入手可能:
A Designer's Guide to Built-In Self-Test - Frontiers in Electronic Testing
Charles E. Stroud
A recent technological advance is the art of designing circuits to test themselves, referred to as a Built-In Self-Test. This book is written from a designer's perspective and describes the major BIST approaches that have been proposed and implemented, along with their advantages and limitations.
340 pages, biography
| メディア | 書籍 Paperback Book (ソフトカバーで背表紙を接着した本) |
| リリース済み | 2013年3月18日 |
| ISBN13 | 9781475776263 |
| 出版社 | Springer-Verlag New York Inc. |
| ページ数 | 320 |
| 寸法 | 155 × 235 × 18 mm · 480 g |
| 言語 | 英語 |