E Gusev
Defects in HIgh-k Gate Dielectric Stacks: Nano-Electronic Semiconductor Devices - NATO Science Series II E Gusev 2006 edition

Name: Defects in HIgh-k Gate Dielectric Stacks: Nano-Electronic Semiconductor Devices - NATO Science Series II
Price: 32215 JPY
Availability: OutOfStock
Author: E Gusev

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¥ 32.215

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Defects in HIgh-k Gate Dielectric Stacks: Nano-Electronic Semiconductor Devices - NATO Science Series II

E Gusev

2006 edition

Proceedings of the NATO Advanced Research Workshop on Defects in Advanced High-K Dielectric Nano-Electronic Semiconductor Devices, St. Petersburg, Russia, from 11 to 14 July 2005.

492 pages, biography

メディア	書籍 Paperback Book (ソフトカバーで背表紙を接着した本)
リリース済み	2006年1月27日
ISBN13	9781402043666
出版社	Springer-Verlag New York Inc.
ページ数	492
寸法	155 × 235 × 25 mm · 703 g
言語	英語
編集者	Gusev, Evgeni