Nanometer Technology Designs: High-Quality Delay Tests - Nisar Ahmed - 書籍 - Springer-Verlag New York Inc. - 9780387764863 - 2007年12月20日
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Nisar Ahmed
Nanometer Technology Designs: High-Quality Delay Tests 2008 edition

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Supply noise (including IR-drop, ground bounce, and Ldi/dt) effects on chip performance, high test pattern volume, low fault/defect coverage, small delay defect test pattern generation, high cost of test implementation and application, and utilizing low-cost testers are among these challenges.

304 pages, 1, black & white illustrations

メディア 書籍     Hardcover Book   (ハードカバー付きの本)
リリース済み 2007年12月20日
ISBN13 9780387764863
出版社 Springer-Verlag New York Inc.
ページ数 281
寸法 164 × 242 × 22 mm   ·   626 g
言語 英語  

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