Nanometer Technology Designs: High-Quality Delay Tests - Nisar Ahmed - 書籍 - Springer-Verlag New York Inc. - 9781441945594 - 2011年12月14日
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Nisar Ahmed
Nanometer Technology Designs: High-Quality Delay Tests 2008 edition

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Traditional at-speed test methods cannot guarantee high quality test results as they face many new challenges. Supply noise effects on chip performance, high test pattern volume, small delay defect test pattern generation, high cost of test implementation and application, and utilizing low-cost testers are among these challenges.

281 pages, black & white illustrations

メディア 書籍     Paperback Book   (ソフトカバーで背表紙を接着した本)
リリース済み 2011年12月14日
ISBN13 9781441945594
出版社 Springer-Verlag New York Inc.
ページ数 281
寸法 155 × 235 × 15 mm   ·   421 g
言語 英語  

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