Data Mining and Diagnosing IC Fails - Frontiers in Electronic Testing - Leendert M. Huisman - 書籍 - Springer-Verlag New York Inc. - 9780387249933 - 2005年6月21日
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Leendert M. Huisman
Data Mining and Diagnosing IC Fails - Frontiers in Electronic Testing 2005 edition

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The second part contains all the mathematical details that are necessary to prove the validity of the analysis techniques, the existence of solutions to the problems that those techniques engender, and the correctness of several properties that were assumed in the first part.

250 pages, 46 black & white illustrations, biography

メディア 書籍     Hardcover Book   (ハードカバー付きの本)
リリース済み 2005年6月21日
ISBN13 9780387249933
出版社 Springer-Verlag New York Inc.
ページ数 250
寸法 155 × 235 × 15 mm   ·   576 g
言語 英語  

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