Data Mining and Diagnosing IC Fails - Frontiers in Electronic Testing - Leendert M. Huisman - 書籍 - Springer-Verlag New York Inc. - 9781441937674 - 2010年12月8日
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Leendert M. Huisman
Data Mining and Diagnosing IC Fails - Frontiers in Electronic Testing Softcover reprint of hardcover 1st ed. 2005 edition

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The second part contains all the mathematical details that are necessary to prove the validity of the analysis techniques, the existence of solutions to the problems that those techniques engender, and the correctness of several properties that were assumed in the first part.

250 pages, 46 black & white illustrations, biography

メディア 書籍     Paperback Book   (ソフトカバーで背表紙を接着した本)
リリース済み 2010年12月8日
ISBN13 9781441937674
出版社 Springer-Verlag New York Inc.
ページ数 250
寸法 155 × 235 × 14 mm   ·   385 g

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