この商品を友人に教える:
Point Defects in Semiconductors and Insulators: Determination of Atomic and Electronic Structure from Paramagnetic Hyperfine Interactions - Springer Series in Materials Science Johann-Martin Spaeth Softcover reprint of the original 1st ed. 2003 edition
価格
¥ 32.151
税抜
遠隔倉庫からの取り寄せ
発送予定日 年11月11日 - 年11月23日
クリスマスプレゼントは1月31日まで返品可能です
Johann-Martin Spaeth の新しいリリースのお知らせを受け取る
iMusicのウィッシュリストに追加
他の形態でも入手可能:
Point Defects in Semiconductors and Insulators: Determination of Atomic and Electronic Structure from Paramagnetic Hyperfine Interactions - Springer Series in Materials Science
Johann-Martin Spaeth
The precedent book with the title "Structural Analysis of Point Defects in Solids: An introduction to multiple magnetic resonance spectroscopy" ap peared about 10 years ago.
492 pages, biography
| メディア | 書籍 Paperback Book (ソフトカバーで背表紙を接着した本) |
| リリース済み | 2012年9月14日 |
| ISBN13 | 9783642627224 |
| 出版社 | Springer-Verlag Berlin and Heidelberg Gm |
| ページ数 | 492 |
| 寸法 | 155 × 235 × 25 mm · 703 g |
| 言語 | 英語 |
| 寄稿者 | Hans-Joachim Queisser |