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Point Defects in Semiconductors and Insulators: Determination of Atomic and Electronic Structure from Paramagnetic Hyperfine Interactions - Springer Series in Materials Science Johann-Martin Spaeth 2003 edition
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Point Defects in Semiconductors and Insulators: Determination of Atomic and Electronic Structure from Paramagnetic Hyperfine Interactions - Springer Series in Materials Science
Johann-Martin Spaeth
The precedent book with the title "Structural Analysis of Point Defects in Solids: An introduction to multiple magnetic resonance spectroscopy" ap peared about 10 years ago.
492 pages, biography
| メディア | 書籍 Hardcover Book (ハードカバー付きの本) |
| リリース済み | 2003年1月22日 |
| ISBN13 | 9783540426950 |
| 出版社 | Springer-Verlag Berlin and Heidelberg Gm |
| ページ数 | 492 |
| 寸法 | 155 × 235 × 28 mm · 884 g |
| 言語 | 英語 ドイツ語 |
| 寄稿者 | Hans-Joachim Queisser |