Point Defects in Semiconductors and Insulators: Determination of Atomic and Electronic Structure from Paramagnetic Hyperfine Interactions - Springer Series in Materials Science - Johann-Martin Spaeth - 書籍 - Springer-Verlag Berlin and Heidelberg Gm - 9783540426950 - 2003年1月22日
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Point Defects in Semiconductors and Insulators: Determination of Atomic and Electronic Structure from Paramagnetic Hyperfine Interactions - Springer Series in Materials Science 2003 edition

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The precedent book with the title "Structural Analysis of Point Defects in Solids: An introduction to multiple magnetic resonance spectroscopy" ap peared about 10 years ago.


492 pages, biography

メディア 書籍     Hardcover Book   (ハードカバー付きの本)
リリース済み 2003年1月22日
ISBN13 9783540426950
出版社 Springer-Verlag Berlin and Heidelberg Gm
ページ数 492
寸法 155 × 235 × 28 mm   ·   884 g
言語 英語   ドイツ語  
寄稿者 Hans-Joachim Queisser

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