Positron Annihilation in Semiconductors: Defect Studies - Springer Series in Solid-State Sciences - Reinhard Krause-Rehberg - 書籍 - Springer-Verlag Berlin and Heidelberg Gm - 9783642084034 - 2010年12月1日
カバー画像とタイトルが一致しない場合、正しいのはタイトルです

Reinhard Krause-Rehberg
Positron Annihilation in Semiconductors: Defect Studies - Springer Series in Solid-State Sciences Softcover reprint of hardcover 1st ed. 1999 edition

価格
¥ 32.058
税抜

遠隔倉庫からの取り寄せ

発送予定日 年11月9日 - 年11月19日
クリスマスプレゼントは1月31日まで返品可能です
Reinhard Krause-Rehberg の新しいリリースのお知らせを受け取る

お客様の声：

EU消費者保護法に基づく14日間の返品ポリシー
Trustpilotで高評価
iMusicのウィッシュリストに追加

まだ評価がありません

他の形態でも入手可能：

The subject of this book is the investigation of lattice imperfections in semiconductors by means of positron annihilation. The sensitivity range of positron annihilation with respect to the detection of these defects is compared to that of other defect-sensitive methods.

383 pages, 121 black & white illustrations, 20 black & white tables, biography

メディア 書籍     Paperback Book   (ソフトカバーで背表紙を接着した本)
リリース済み 2010年12月1日
ISBN13 9783642084034
出版社 Springer-Verlag Berlin and Heidelberg Gm
ページ数 383
寸法 232 × 156 × 47 mm   ·   626 g
言語 英語  

同じ出版社からのその他の記事

Reinhard Krause-Rehbergのすべてを見る