Positron Annihilation in Semiconductors: Defect Studies - Springer Series in Solid-State Sciences - Reinhard Krause-Rehberg - 書籍 - Springer-Verlag Berlin and Heidelberg Gm - 9783540643715 - 1999年1月21日
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Reinhard Krause-Rehberg
Positron Annihilation in Semiconductors: Defect Studies - Springer Series in Solid-State Sciences 1st ed. 1999. Corr. 2nd printing 2003 edition

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This comprehensive book reports on recent investigations of lattice imperfections in semiconductors by means of positron annihilation. It reviews positron techniques, and describes the application of these techniques to various kinds of defects, such as vacancies, impurity vacancy complexes and dislocations.

383 pages, 121 black & white illustrations, 20 black & white tables, biography

メディア 書籍     Hardcover Book   (ハードカバー付きの本)
リリース済み 1999年1月21日
ISBN13 9783540643715
出版社 Springer-Verlag Berlin and Heidelberg Gm
ページ数 383
寸法 156 × 234 × 22 mm   ·   680 g
言語 ドイツ語  

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