Gerd Kaupp
Atomic Force Microscopy, Scanning Nearfield Optical Microscopy and Nanoscratching: Application to Rough and Natural Surfaces - NanoScience and Technology Gerd Kaupp 1st ed. Softcover of orig. ed. 2006 edition

Name: Atomic Force Microscopy, Scanning Nearfield Optical Microscopy and Nanoscratching: Application to Rough and Natural Surfaces - NanoScience and Technology
Price: 31206 JPY
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Author: Gerd Kaupp

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Atomic Force Microscopy, Scanning Nearfield Optical Microscopy and Nanoscratching: Application to Rough and Natural Surfaces - NanoScience and Technology

Gerd Kaupp

1st ed. Softcover of orig. ed. 2006 edition

Making a clear distinction is made between nano- and micro-mechanical testing for physical reasons, this monograph describes the basics and applications of the supermicroscopies AFM and SNOM, and of the nanomechanical testing on rough and technical natural surfaces in the submicron range down to a lateral resolution of a few nm.

308 pages, 7 black & white tables, biography

メディア	書籍 Paperback Book (ソフトカバーで背表紙を接着した本)
リリース済み	2010年2月12日
ISBN13	9783642066634
出版社	Springer-Verlag Berlin and Heidelberg Gm
ページ数	292
寸法	156 × 233 × 20 mm · 466 g
言語	英語