Atomic Force Microscopy, Scanning Nearfield Optical Microscopy and Nanoscratching: Application to Rough and Natural Surfaces - NanoScience and Technology - Gerd Kaupp - 書籍 - Springer-Verlag Berlin and Heidelberg Gm - 9783540284055 - 2006年8月4日
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Gerd Kaupp
Atomic Force Microscopy, Scanning Nearfield Optical Microscopy and Nanoscratching: Application to Rough and Natural Surfaces - NanoScience and Technology 2006 edition

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Making a clear distinction is made between nano- and micro-mechanical testing for physical reasons, this monograph describes the basics and applications of the supermicroscopies AFM and SNOM, and of the nanomechanical testing on rough and technical natural surfaces in the submicron range down to a lateral resolution of a few nm.

308 pages, 7 black & white tables, biography

メディア 書籍     Hardcover Book   (ハードカバー付きの本)
リリース済み 2006年8月4日
ISBN13 9783540284055
出版社 Springer-Verlag Berlin and Heidelberg Gm
ページ数 292
寸法 155 × 235 × 19 mm   ·   607 g
言語 英語  

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