Testing and Diagnosis of Analog Circuits and Systems - Ruey-wen Liu - 書籍 - Springer-Verlag New York Inc. - 9781461597490 - 2012年3月8日
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Testing and Diagnosis of Analog Circuits and Systems Softcover reprint of the original 1st ed. 1991 edition

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Unfortunately, the prob lem for analog circuits is fundamentally different from and much more diffi cult than its counterpart for digital circuits. Therefore, even Ix x Preface though the analog circuit may be small, the total circuit under testing is large.


284 pages, 2 black & white illustrations, biography

メディア 書籍     Paperback Book   (ソフトカバーで背表紙を接着した本)
リリース済み 2012年3月8日
ISBN13 9781461597490
出版社 Springer-Verlag New York Inc.
ページ数 284
寸法 152 × 229 × 16 mm   ·   408 g
言語 英語  

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