Bias Temperature Instability for Devices and Circuits - Tibor Grasser - 書籍 - Springer-Verlag New York Inc. - 9781461479086 - 2013年10月23日
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Tibor Grasser
Bias Temperature Instability for Devices and Circuits 2014 edition

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Readers will benefit from state-of-the art coverage of research in topics such as time dependent defect spectroscopy, anomalous defect behavior, stochastic modeling with additional metastable states, multiphonon theory, compact modeling with RC ladders and implications on device reliability and lifetime.

864 pages, 283 black & white illustrations, 318 colour illustrations, 22 black & white tables, biogr

メディア 書籍     Hardcover Book   (ハードカバー付きの本)
リリース済み 2013年10月23日
ISBN13 9781461479086
出版社 Springer-Verlag New York Inc.
ページ数 810
寸法 158 × 241 × 50 mm   ·   1,50 kg
言語 英語  
編集者 Grasser, Tibor

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