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Extreme Statistics in Nanoscale Memory Design - Integrated Circuits and Systems Amith Singhee
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Extreme Statistics in Nanoscale Memory Design - Integrated Circuits and Systems
Amith Singhee
This comprehensive book explains the problem of estimating statistics of memory performance variation induced due to IC manufacturing process variations. It further provides solutions recently proposed in the Electronic Design Automation (EDA) community.
246 pages, biography
| メディア | 書籍 Paperback Book (ソフトカバーで背表紙を接着した本) |
| リリース済み | 2012年11月5日 |
| ISBN13 | 9781461426721 |
| 出版社 | Springer-Verlag New York Inc. |
| ページ数 | 246 |
| 寸法 | 155 × 235 × 13 mm · 367 g |
| 言語 | 英語 |
| 編集者 | Rutenbar, Rob A. |
| 編集者 | Singhee, Amith |
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