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Extreme Statistics in Nanoscale Memory Design - Integrated Circuits and Systems Amith Singhee 2010 edition
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Extreme Statistics in Nanoscale Memory Design - Integrated Circuits and Systems
Amith Singhee
This discontinuity in design processes has led many researchers to develop effective methods of statistical design, where the designer can simulate not just the behavior of the nominal design, but the expected statistics of the behavior in manufactured ICs.
246 pages, biography
| メディア | 書籍 Hardcover Book (ハードカバー付きの本) |
| リリース済み | 2010年9月17日 |
| ISBN13 | 9781441966056 |
| 出版社 | Springer-Verlag New York Inc. |
| ジャンル | Aspects (Academic) > Science / Technology Aspects |
| ページ数 | 246 |
| 寸法 | 155 × 235 × 15 mm · 539 g |
| 言語 | 英語 |
| 編集者 | Rutenbar, Rob A. |
| 編集者 | Singhee, Amith |
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