Extreme Statistics in Nanoscale Memory Design - Integrated Circuits and Systems - Amith Singhee - 書籍 - Springer-Verlag New York Inc. - 9781441966056 - 2010年9月17日
カバー画像とタイトルが一致しない場合、正しいのはタイトルです

Extreme Statistics in Nanoscale Memory Design - Integrated Circuits and Systems 2010 edition

価格
¥ 29.258
税抜

遠隔倉庫からの取り寄せ

発送予定日 年8月25日 - 年9月10日
Amith Singhee の新しいリリースのお知らせを受け取る
iMusicのウィッシュリストに追加

まだ評価がありません

他の形態でも入手可能:

This discontinuity in design processes has led many researchers to develop effective methods of statistical design, where the designer can simulate not just the behavior of the nominal design, but the expected statistics of the behavior in manufactured ICs.


246 pages, biography

メディア 書籍     Hardcover Book   (ハードカバー付きの本)
リリース済み 2010年9月17日
ISBN13 9781441966056
出版社 Springer-Verlag New York Inc.
ジャンル Aspects (Academic) > Science / Technology Aspects
ページ数 246
寸法 155 × 235 × 15 mm   ·   539 g
言語 英語  
編集者 Rutenbar, Rob A.
編集者 Singhee, Amith

Amith Singheeの他の作品を見る

すべて表示

同じ出版社からのその他の記事