Advances in X-Ray Analysis: Volume 22 - Gregory J Mccarthy - 書籍 - Springer-Verlag New York Inc. - 9781461399896 - 2012年12月12日
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Advances in X-Ray Analysis: Volume 22 Softcover reprint of the original 1st ed. 1979 edition

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In keeping with recent practice, this year's Denver Conference on Applications of X-ray Analysis emphasized x-ray diffraction and was co-sponsored by JCPDS, International Center for Diffraction Data.


492 pages, biography

メディア 書籍     Paperback Book   (ソフトカバーで背表紙を接着した本)
リリース済み 2012年12月12日
ISBN13 9781461399896
出版社 Springer-Verlag New York Inc.
ページ数 492
寸法 170 × 244 × 26 mm   ·   807 g
言語 英語  
編集者 McCarthy, Gregory J.

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