Advances in X-ray Analysis: Volume 20 - Mcmurdie - 書籍 - Springer-Verlag New York Inc. - 9781461399834 - 2012年12月12日
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Mcmurdie
Advances in X-ray Analysis: Volume 20 Softcover reprint of the original 1st ed. 1977 edition

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X-ray diffraction as a method of qualitative analysis for crystal line phases has been long accepted, and has had constant improvement in method and equipment.

621 pages, 171 black & white illustrations, biography

メディア 書籍     Paperback Book   (ソフトカバーで背表紙を接着した本)
リリース済み 2012年12月12日
ISBN13 9781461399834
出版社 Springer-Verlag New York Inc.
ページ数 604
寸法 178 × 254 × 32 mm   ·   1,07 kg
言語 英語  
編集者 McMurdie, Howard

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