Testability Concepts for Digital Ics: the Macro Test Approach - Frontiers in Electronic Testing - Frans P. M. Beenker - 書籍 - Springer-Verlag New York Inc. - 9781461360049 - 2012年10月4日
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Testability Concepts for Digital Ics: the Macro Test Approach - Frontiers in Electronic Testing Softcover Reprint of the Original 1st Ed. 1995 edition

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221 pages, black & white illustrations, bibliography

メディア 書籍     Paperback Book   (ソフトカバーで背表紙を接着した本)
リリース済み 2012年10月4日
ISBN13 9781461360049
出版社 Springer-Verlag New York Inc.
ページ数 212
寸法 155 × 235 × 12 mm   ·   326 g
言語 英語  

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