Testability Concepts for Digital Ics: the Macro Test Approach - Frontiers in Electronic Testing - Frans P. M. Beenker - 書籍 - Kluwer Academic Publishers - 9780792396581 - 1995年11月30日
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Frans P. M. Beenker
Testability Concepts for Digital Ics: the Macro Test Approach - Frontiers in Electronic Testing 1995 edition

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Considering the testability aspects for digital ICs, this book integrates the testability aspects into the design and manufacturing of ICs and, for each IC design project, gives a precise definition of the boundary conditions, responsibilities, interfaces and communications between persons, and quality targets.

212 pages, biography

メディア 書籍     Hardcover Book   (ハードカバー付きの本)
リリース済み 1995年11月30日
ISBN13 9780792396581
出版社 Kluwer Academic Publishers
ページ数 212
寸法 170 × 244 × 14 mm   ·   498 g
言語 英語  

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