Advances in X-Ray Analysis: Volume 28 - Charles S Barrett - 書籍 - Springer-Verlag New York Inc. - 9781461294993 - 2011年10月4日
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Advances in X-Ray Analysis: Volume 28 Softcover reprint of the original 1st ed. 1985 edition

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The 33rd Annual Denver Conference on Applications of X-Ray Analysis was held July 30-August 3. Following the recent tradition of alternating plenary lecture topics between X-ray diffraction and X-ray fluorescence at the confer ence. Total reflectance X-ray spectrometry takes advantage of con sideration of the geometry of the X-ray optics.


408 pages, black & white illustrations

メディア 書籍     Paperback Book   (ソフトカバーで背表紙を接着した本)
リリース済み 2011年10月4日
ISBN13 9781461294993
出版社 Springer-Verlag New York Inc.
ページ数 408
寸法 178 × 254 × 21 mm   ·   712 g
言語 英語  
編集者 Barrett, Charles S.
編集者 Predecki, Paul K.

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