Sleiman Bou-Sleiman
Built-in-Self-Test and Digital Self-Calibration for RF SoCs - SpringerBriefs in Electrical and Computer Engineering Sleiman Bou-Sleiman 2012 edition

Name: Built-in-Self-Test and Digital Self-Calibration for RF SoCs - SpringerBriefs in Electrical and Computer Engineering
Price: 8657 JPY
Availability: OutOfStock
Author: Sleiman Bou-Sleiman

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Built-in-Self-Test and Digital Self-Calibration for RF SoCs - SpringerBriefs in Electrical and Computer Engineering

Sleiman Bou-Sleiman

2012 edition

This book will introduce design methodologies, known as Built-in-Self-Test (BiST) and Built-in-Self-Calibration (BiSC), which enhance the robustness of radio frequency (RF) and millimeter wave (mmWave) integrated circuits (ICs).

106 pages, 70 black & white illustrations, 7 black & white tables, biography

メディア	書籍 Paperback Book (ソフトカバーで背表紙を接着した本)
リリース済み	2011年9月22日
ISBN13	9781441995476
出版社	Springer-Verlag New York Inc.
ページ数	89
寸法	155 × 235 × 5 mm · 163 g
言語	英語