Thermal Testing of Integrated Circuits - J. Altet - 書籍 - Springer-Verlag New York Inc. - 9781441952875 - 2011年9月21日
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J. Altet
Thermal Testing of Integrated Circuits Softcover reprint of the original 1st ed. 2002 edition

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Temperature has been always considered as an appreciable magnitude to detect failures in electric systems. In this book, the authors present the feasibility of considering temperature as an observable for testing purposes, with full coverage of the state of the art.

204 pages, 102 black & white illustrations, biography

メディア 書籍     Paperback Book   (ソフトカバーで背表紙を接着した本)
リリース済み 2011年9月21日
ISBN13 9781441952875
出版社 Springer-Verlag New York Inc.
ページ数 204
寸法 155 × 235 × 12 mm   ·   322 g
言語 英語  

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