Thermal Testing of Integrated Circuits - J. Altet - 書籍 - Springer-Verlag New York Inc. - 9781402070761 - 2002年6月30日
カバー画像とタイトルが一致しない場合、正しいのはタイトルです

Thermal Testing of Integrated Circuits 2002 edition

価格
¥ 17.135
税抜

遠隔倉庫からの取り寄せ

発送予定日 年9月21日 - 年10月1日
J. Altet の新しいリリースのお知らせを受け取る
iMusicのウィッシュリストに追加

まだ評価がありません

他の形態でも入手可能:

Temperature has been always considered as an appreciable magnitude to detect failures in electric systems. In this book, the authors present the feasibility of considering temperature as an observable for testing purposes, with full coverage of the state of the art.


204 pages, 102 black & white illustrations, biography

メディア 書籍     Hardcover Book   (ハードカバー付きの本)
リリース済み 2002年6月30日
ISBN13 9781402070761
出版社 Springer-Verlag New York Inc.
ページ数 204
寸法 160 × 240 × 14 mm   ·   539 g
言語 英語  

同じ出版社からのその他の記事