この商品を友人に教える:
Thermal Testing of Integrated Circuits J. Altet 2002 edition
価格
¥ 17.135
税抜
遠隔倉庫からの取り寄せ
発送予定日 年9月21日 - 年10月1日
J. Altet の新しいリリースのお知らせを受け取る
iMusicのウィッシュリストに追加
他の形態でも入手可能:
Thermal Testing of Integrated Circuits
J. Altet
Temperature has been always considered as an appreciable magnitude to detect failures in electric systems. In this book, the authors present the feasibility of considering temperature as an observable for testing purposes, with full coverage of the state of the art.
204 pages, 102 black & white illustrations, biography
| メディア | 書籍 Hardcover Book (ハードカバー付きの本) |
| リリース済み | 2002年6月30日 |
| ISBN13 | 9781402070761 |
| 出版社 | Springer-Verlag New York Inc. |
| ページ数 | 204 |
| 寸法 | 160 × 240 × 14 mm · 539 g |
| 言語 | 英語 |