Scanning Microscopy for Nanotechnology: Techniques and Applications - Weilie Zhou - 書籍 - Springer-Verlag New York Inc. - 9781441922090 - 2010年10月29日
カバー画像とタイトルが一致しない場合、正しいのはタイトルです

Weilie Zhou
Scanning Microscopy for Nanotechnology: Techniques and Applications Softcover reprint of hardcover 1st ed. 2007 edition

価格
¥ 38.303
税抜

遠隔倉庫からの取り寄せ

発送予定日 年6月15日 - 年6月25日

お客様の声：

EU消費者保護法に基づく14日間の返品ポリシー
Trustpilotで高評価
iMusicのウィッシュリストに追加

他の形態でも入手可能：

This book presents scanning electron microscopy (SEM) fundamentals and applications for nanotechnology. It includes integrated fabrication techniques using the SEM, such as e-beam and FIB, and it covers in-situ nanomanipulation of materials. The book will appeal to nanomaterials researchers, and to SEM development specialists.

538 pages, black & white illustrations

メディア 書籍     Paperback Book   (ソフトカバーで背表紙を接着した本)
リリース済み 2010年10月29日
ISBN13 9781441922090
出版社 Springer-Verlag New York Inc.
ページ数 522
寸法 155 × 235 × 27 mm   ·   743 g
言語 英語  
編集者 Wang, Zhong Lin
編集者 Zhou, Weilie

Mere med samme udgiver

Weilie Zhouのすべてを見る ( 例： Hardcover Book および Paperback Book )