Scanning Microscopy for Nanotechnology: Techniques and Applications - Weilie Zhou - 書籍 - Springer-Verlag New York Inc. - 9780387333250 - 2006年11月27日
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Scanning Microscopy for Nanotechnology: Techniques and Applications 2007 edition

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This book presents scanning electron microscopy (SEM) fundamentals and applications for nanotechnology. It includes integrated fabrication techniques using the SEM, such as e-beam and FIB, and it covers in-situ nanomanipulation of materials. The book will appeal to nanomaterials researchers, and to SEM development specialists.


552 pages, 399 black & white illustrations, biography

メディア 書籍     Hardcover Book   (ハードカバー付きの本)
リリース済み 2006年11月27日
ISBN13 9780387333250
出版社 Springer-Verlag New York Inc.
ページ数 522
寸法 155 × 235 × 30 mm   ·   1,05 kg
言語 英語  
編集者 Wang, Zhong Lin
編集者 Zhou, Weilie

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