Delay Fault Testing for VLSI Circuits - Frontiers in Electronic Testing - Angela Krstic - 書籍 - Springer - 9780792382959 - 1998年10月31日
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Angela Krstic
Delay Fault Testing for VLSI Circuits - Frontiers in Electronic Testing 1998 edition

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In that sense, this book is the best x DELAY FAULT TESTING FOR VLSI CIRCUITS available guide for an engineer designing or testing VLSI systems. Tech niques for path delay testing and for use of slower test equipment to test high-speed circuits are of particular interest.

191 pages, biography

メディア 書籍     Hardcover Book   (ハードカバー付きの本)
リリース済み 1998年10月31日
ISBN13 9780792382959
出版社 Springer
ページ数 191
寸法 155 × 235 × 12 mm   ·   476 g
言語 英語  

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