Delay Fault Testing for VLSI Circuits - Frontiers in Electronic Testing - Angela Krstic - 書籍 - Springer-Verlag New York Inc. - 9781461375616 - 2012年10月12日
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Angela Krstic
Delay Fault Testing for VLSI Circuits - Frontiers in Electronic Testing Softcover reprint of the original 1st ed. 1998 edition

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In that sense, this book is the best x DELAY FAULT TESTING FOR VLSI CIRCUITS available guide for an engineer designing or testing VLSI systems. Tech niques for path delay testing and for use of slower test equipment to test high-speed circuits are of particular interest.

191 pages, biography

メディア 書籍     Paperback Book   (ソフトカバーで背表紙を接着した本)
リリース済み 2012年10月12日
発売日 1998
ISBN13 9781461375616
出版社 Springer-Verlag New York Inc.
ページ数 191
寸法 155 × 235 × 11 mm   ·   299 g
言語 英語  

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