Resonant X-Ray Scattering in Correlated Systems - Springer Tracts in Modern Physics - - 書籍 - Springer-Verlag Berlin and Heidelberg Gm - 9783662571224 - 2018年7月7日
カバー画像とタイトルが一致しない場合、正しいのはタイトルです

Resonant X-Ray Scattering in Correlated Systems - Springer Tracts in Modern Physics Softcover reprint of the original 1st ed. 2017 edition

価格
¥ 21.480
税抜

遠隔倉庫からの取り寄せ

発送予定日 年10月19日 - 年10月29日

お客様の声：

EU消費者保護法に基づく14日間の返品ポリシー
Trustpilotで高評価
iMusicのウィッシュリストに追加

まだ評価がありません

他の形態でも入手可能：

The research and its outcomes presented here is devoted to the use of x-ray scattering to study correlated electron systems and magnetism. Different x-ray based methods are provided to analyze three dimensional electron systems and the structure of transition-metal oxides.

241 pages, 25 Illustrations, color; 126 Illustrations, black and white; VII, 241 p. 151 illus., 25 i

メディア 書籍     Paperback Book   (ソフトカバーで背表紙を接着した本)
リリース済み 2018年7月7日
ISBN13 9783662571224
出版社 Springer-Verlag Berlin and Heidelberg Gm
ページ数 241
寸法 150 × 220 × 10 mm   ·   388 g
言語 ドイツ語  
編集者 Ishihara, Sumio
編集者 Murakami, Youichi

同じ出版社からのその他の記事