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Resonant X-Ray Scattering in Correlated Systems - Springer Tracts in Modern Physics 1st ed. 2017 edition
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Resonant X-Ray Scattering in Correlated Systems - Springer Tracts in Modern Physics
The research and its outcomes presented here is devoted to the use of x-ray scattering to study correlated electron systems and magnetism. Different x-ray based methods are provided to analyze three dimensional electron systems and the structure of transition-metal oxides.
241 pages, 126 black & white illustrations, 25 colour illustrations, biography
| メディア | 書籍 Hardcover Book (ハードカバー付きの本) |
| リリース済み | 2017年1月5日 |
| ISBN13 | 9783662532256 |
| 出版社 | Springer-Verlag Berlin and Heidelberg Gm |
| ページ数 | 241 |
| 寸法 | 155 × 235 × 16 mm · 530 g |
| 言語 | フランス語 |
| 編集者 | Ishihara, Sumio |
| 編集者 | Murakami, Youichi |