この商品を友人に教える:
Veyvlet-obrabotka Yaroslav Belekhov Russian edition
遠隔倉庫からの取り寄せ
Veyvlet-obrabotka
Yaroslav Belekhov
V sovremennom poluprovodnikovom materialovedenii vsye chashche trebuyutsya tekhnologii tsifrovoy obrabotki signalov dlya povysheniya chuvstvitel'nosti i informativnosti metodov diagnostiki strukturnogo sovershenstva monokristallov. Zadacha osobenno aktual'na dlya metodov, predostavlyayushchikh naglyadnoe izobrazhenie vnutrenney struktury kristalla. Predstavlennaya monografiya posvyashchena voprosu primeneniya veyvlet-analiza v tsifrovoy obrabotke izobrazheniy strukturnykh defektov monokristallicheskikh poluprovodnikov. V kachestve eksperimental'noy bazy, rassmatrivayutsya metody rentgenovskoy topografii i polyarizatsionno-opticheskogo analiza. Predstavleno poetapnoe postroenie metodiki i algoritmov veyvlet-obrabotki. Izlozheny osnovnye aspekty veyvlet-obrabotki v zadachakh ustraneniya fonovoy neodnorodnosti polyarizatsionno-opticheskikh izobrazheniy i zernistogo kontrasta rentgenovskikh topograficheskikh snimkov. Rabota osnovyvaetsya na materialakh dissertatsionnogo issledovaniya, posvyashchyennogo dannomu voprosu i provodivshegosya s 2002 po 2006 g. Monografiya mozhet predstavlyat' interes dlya nauchnykh rabotnikov i inzhenernykh spetsialistov v oblasti tekhnologiy materialov mikro- i nanoelektroniki, tsifrovoy obrabotki signalov i izobrazheniy.
| メディア | 書籍 Paperback Book (ソフトカバーで背表紙を接着した本) |
| リリース済み | 2014年2月26日 |
| ISBN13 | 9783659500527 |
| 出版社 | LAP LAMBERT Academic Publishing |
| ページ数 | 288 |
| 寸法 | 150 × 16 × 226 mm · 447 g |
| 言語 | ドイツ語 |