Kelvin Probe Force Microscopy: Measuring and Compensating Electrostatic Forces - Springer Series in Surface Sciences - Sascha Sadewasser - 書籍 - Springer-Verlag Berlin and Heidelberg Gm - 9783642271137 - 2013年11月30日
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Sascha Sadewasser
Kelvin Probe Force Microscopy: Measuring and Compensating Electrostatic Forces - Springer Series in Surface Sciences

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Over the nearly 20 years of Kelvin probe force microscopy, an increasing interest in the technique and its applications has developed. Surface potential studies on semiconductor materials, nanostructures and devices are described, as well as application to molecular and organic materials.

290 pages, biography

メディア 書籍     Paperback Book   (ソフトカバーで背表紙を接着した本)
リリース済み 2013年11月30日
ISBN13 9783642271137
出版社 Springer-Verlag Berlin and Heidelberg Gm
ページ数 334
寸法 156 × 236 × 23 mm   ·   485 g
言語 フランス語  
編集者 Glatzel, Thilo
編集者 Sadewasser, Sascha

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