Kelvin Probe Force Microscopy: Measuring and Compensating Electrostatic Forces - Springer Series in Surface Sciences - Sascha Sadewasser - 書籍 - Springer-Verlag Berlin and Heidelberg Gm - 9783642225659 - 2011年10月22日
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Sascha Sadewasser
Kelvin Probe Force Microscopy: Measuring and Compensating Electrostatic Forces - Springer Series in Surface Sciences 2012 edition

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Over the nearly 20 years of Kelvin probe force microscopy, an increasing interest in the technique and its applications has developed. Surface potential studies on semiconductor materials, nanostructures and devices are described, as well as application to molecular and organic materials.

290 pages, biography

メディア 書籍     Hardcover Book   (ハードカバー付きの本)
リリース済み 2011年10月22日
ISBN13 9783642225659
出版社 Springer-Verlag Berlin and Heidelberg Gm
ページ数 334
寸法 162 × 242 × 25 mm   ·   612 g
言語 ドイツ語  
編集者 Glatzel, Thilo
編集者 Sadewasser, Sascha

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