Lock-in Thermography: Basics and Use for Evaluating Electronic Devices and Materials - Springer Series in Advanced Microelectronics - Otwin Breitenstein - 書籍 - Springer-Verlag Berlin and Heidelberg Gm - 9783642264788 - 2012年11月6日
カバー画像とタイトルが一致しない場合、正しいのはタイトルです

Otwin Breitenstein
Lock-in Thermography: Basics and Use for Evaluating Electronic Devices and Materials - Springer Series in Advanced Microelectronics Softcover reprint of hardcover 2nd ed. 2010 edition

商品が入荷したらメールで通知を受け取る
プロフィールはありますか？ ログイン
Otwin Breitenstein の新しいリリースのお知らせを受け取る

お客様の声：

EU消費者保護法に基づく14日間の返品ポリシー
Trustpilotで高評価
iMusicのウィッシュリストに追加

まだ評価がありません

他の形態でも入手可能：

Lock-in Thermography focuses on this sensitive infrared measurement system that offers a more effective analytical capability. Though mainly covering applications in electronic materials and devices, readers will also find treatment of nondestructive evaluation.

258 pages, 56 black & white illustrations, 33 colour illustrations, biography

メディア 書籍     Paperback Book   (ソフトカバーで背表紙を接着した本)
リリース済み 2012年11月6日
ISBN13 9783642264788
出版社 Springer-Verlag Berlin and Heidelberg Gm
ページ数 258
寸法 155 × 235 × 18 mm   ·   385 g
言語 英語  

同じ出版社からのその他の記事

Otwin Breitensteinのすべてを見る ( 例： Hardcover Book および Paperback Book )