Lock-in Thermography: Basics and Use for Evaluating Electronic Devices and Materials - Springer Series in Advanced Microelectronics - Otwin Breitenstein - 書籍 - Springer International Publishing AG - 9783319998244 - 2019年1月22日
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Otwin Breitenstein
Lock-in Thermography: Basics and Use for Evaluating Electronic Devices and Materials - Springer Series in Advanced Microelectronics Third Edition 2018 edition

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Reviewing various experimental approaches to LIT, particularly the commercial LIT systems available, this 3rd edition introduces new LIT applications, such as illuminated LIT applied to solar cells, non-thermal LIT lifetime mapping and LIT application to spin caloritronics problems.

321 pages, 68 Illustrations, color; 55 Illustrations, black and white; XVIII, 321 p. 123 illus., 68

メディア 書籍     Hardcover Book   (ハードカバー付きの本)
リリース済み 2019年1月22日
ISBN13 9783319998244
出版社 Springer International Publishing AG
ページ数 321
寸法 150 × 220 × 20 mm   ·   657 g
言語 ドイツ語  

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