Applied Scanning Probe Methods XII: Characterization - NanoScience and Technology Softcover reprint of hardcover 1st ed. 2009 edition

Name: Applied Scanning Probe Methods XII: Characterization - NanoScience and Technology
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Applied Scanning Probe Methods XII: Characterization - NanoScience and Technology

Softcover reprint of hardcover 1st ed. 2009 edition

Additi- ally they might be damaged by the electron beam of the microscope or the vacuum might cause outgasing of solvents or evaporation of water and thus change material properties.

279 pages, 14 black & white tables, biography

メディア	書籍 Paperback Book (ソフトカバーで背表紙を接着した本)
リリース済み	2010年11月22日
ISBN13	9783642098703
出版社	Springer-Verlag Berlin and Heidelberg Gm
ページ数	224
寸法	150 × 220 × 10 mm · 429 g
言語	ドイツ語
編集者	Bhushan, Bharat
編集者	Fuchs, Harald